Thông tin tài liệu
| Nhan đề : | Mokken scale analysis using hierarchical clustering procedures |
| Tác giả : | Jeroen K. Vermunt Bas T. Hemker L. Andries van der Ark Alexandra A. H. van Abswoude |
| Trích dẫn : | Applied Psychological Measurement. - 2004. - Vol. 28, no. 5 (Sep, 2004). - p. 332 - 354 |
| URI: | http://elib.hcmussh.edu.vn/handle/HCMUSSH/73433 |
| Bộ sưu tập | Bài trích |
XEM MÔ TẢ
3
XEM & TẢI
0
Danh sách tệp tin đính kèm: